單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)試儀

深圳市普云電子有限公司PY-H603TC單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)試儀也叫顆粒抗壓強(qiáng)度測(cè)定儀、單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)，適用于氧化鋯珠、高強(qiáng)陶瓷塊、燈條晶體、煤礦、金剛石、鉆石、塑料顆粒、橡膠、種子、貓砂等顆粒的抗壓強(qiáng)度測(cè)試。它被廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，包括工程材料、制藥、食品、化工等。該儀器通過對(duì)顆粒材料施加外力并測(cè)量其抗壓或抗沖擊能力來評(píng)估其強(qiáng)度特性。

一、單粒抗壓強(qiáng)度測(cè)試儀技術(shù)特點(diǎn)：

1、觸摸屏顯示器實(shí)時(shí)顯示力值，位移變形，自動(dòng)保存當(dāng)次試驗(yàn)最大值；顯示界面可實(shí)時(shí)顯示試驗(yàn)曲線；試驗(yàn)實(shí)時(shí)速度、變形等參數(shù)。

2、采用高精度、全數(shù)字調(diào)速系統(tǒng)及精密減速機(jī)，驅(qū)動(dòng)精密絲杠副進(jìn)行試驗(yàn)，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)速度的大范圍調(diào)節(jié)，運(yùn)行平穩(wěn)。

3、采用高精度傳感器，專業(yè)測(cè)控軟件，測(cè)試精度高，可測(cè)試范圍廣，操作簡(jiǎn)單。

4、試驗(yàn)速度、返程速度、均可單獨(dú)設(shè)置；試驗(yàn)結(jié)束，自動(dòng)回位初始位置。

5、標(biāo)配微型打印機(jī)，可隨時(shí)打印結(jié)果，可以統(tǒng)計(jì)多次試驗(yàn)結(jié)果，最大值，最小值，平均值。

6、試驗(yàn)過程分段速度控制：壓頭接觸試樣前、接觸試樣后速度獨(dú)立控制，保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果精確，試驗(yàn)效率高。

二、普云PY-H603TC單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

1.量程范圍：500* （單臂300* 1000* 2000* 5000牛）

2.分辨率：0.01*

3.準(zhǔn)確度±0.1*

4.測(cè)試方式：破裂測(cè)試

5. 速度：1-500mm/min 可任意設(shè)定

6. 誤差：±0.1 mm/S

7. 主機(jī)尺寸：540*280*1250mm

8. 電源：AC 220V±22V, 50Hz

9、重量：約55Kg